射频导纳物位计

LCM50 射频导纳物位计

LCM50 射频导纳物位计

产品概述

射频导纳物位计是基于射频导纳原理的连续物位测量产品。该产品具有稳定性高、灵敏度高、应用场合广泛等优点。相比传统的电容式物位计,采用模块化设计,能够简洁方便地实现仪表设定,一旦设定完成,即可正常使用并且终身免维护。使用户能够直观地了解设备运行情况,并及时处理出现的问题,在复杂的工业场合也一样安全可靠。

测量原理

传统的电容式物位计,随着物位上涨、物料覆盖探头,电路中探头和介质之间的电容值(导电物料场合)或者探头和管壁之间的电容值(绝缘物料场合)随之增加。由于物位的变化导致了电容桥的失衡,所以电容值的变化取决于被测物料的介电常数。然后通过对信号的检波、放大,最后输出相应的信号。然而,电容式物位仪表有一些缺点,特别是当探头有挂料的时候会严重影响测量结果。

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射频导纳测量技术是具有独特优势的物位测量技术。虽然跟一般的电容式测量技术的概念很相似,但是射频导纳技术在电子单元中加入了Driving-Shield电路和斩波电路,因此能够实现阻抗和容抗的单独测量。通过物理定律计算可得,任何挂料的阻抗和容抗的大小是相等的,所以由挂料产生的影响能够被测量出来并且通过振荡电路的移相,从总的输出中消除。

射频导纳物位计的探头安装在储料罐中,通过探头获得物位变化引起的射频信号的变化。探头的Driving-Shield端能够阻止射频电流通过挂料形成回路,保证了仪表测量的准确性。

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通过移相消除挂料所引起的电流误差                  带Driving-Shield探头的射频导纳探头


射频导纳技术测量结果精度高,并且不受探头挂料的影响,是目前使用场合最广泛的一种测量技术。从低温-100℃到高温800℃、从真空到6.3MPa强压场合、从超短量程到120米超大量程,都能够正常应用,并且能够应用于不同类型的物料。

设计特点

  • 抗挂料:独特的Driving-Shield电路设计提高了抗挂料能力

  • 供电范围:电源工作区间:13~35VDC

  • 适应性:探头过程温度:-100℃~800℃

    无死区测量,可以应用到十几公分甚至几公分的物位测量场合大量程

    最大测量量程可达上百米,甚至几百米

    粘稠性物料界面测量是该仪表的巨大优势

  • 稳定性:稳定可靠的输出,耐飞灰、落料、水汽、结晶、结蜡影响

  • 免维护:无活动、无易磨损部件,无需经常清洁、保养、调试


关键词:
  • 雷达物位计,雷达液位计,雷达料位计,导波雷达物位计
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